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光スペクトラムアナライザー、分光器、カメラ、ビームプロファイラー他
ビーム解析用製品を幅広く取り揃えています。 強度、平行度、出力、波面形状やスペクトル特性といった光の特性を測定することができます。光スペクトラムアナライザは、光ファイバに入力する連続光(CW光)やパルス光のスペクトルをpmレベルの高い分解能で測定する装置です。当社の光スペクトラムアナライザは光ファイバ入力に加え、自由空間光の入力機構も備え、紫外(UV)、可視(VIS)、近赤外(NIR)、中赤外(MIR)、遠赤外(FIR)の各波長帯に対応するラインナップ、波長計機能を有していることを特長としています。
分光器(分光計)とは、光のスペクトルを測定する装置です。当社では、紫外~近赤外までの波長範囲に対応、波長分解能nmレベルでスペクトルデータを出力する小型分光器を販売しています。小型分光器CCSシリーズは光スペクトラムアナライザやサンプルの透過や反射の光スペクトルを測定する分光光度計の類似製品となりますが、波長分解能の低い、低価格な光スペクトラムアナライザと言うこともできます。
ビームプロファイラは、光線断面の強度プロファイルを測定する装置です。CMOSカメラ型とスリット走査型の2種類をラインナップ。CMOSカメラ型は複雑なモードパターンの解析を得意とし、スリット走査型は広い入力ダイナミックレンジと紫外~中赤外までの広い波長範囲が特長です。ビームプロファイラを組み込んだM2測定システムはビーム品質を評価する装置です。
そのほか、各種干渉計やCMOSカメラ、シャックハルトマン波面センサ、補償光学キット、オートコリレータ、光強度安定化装置(ノイズ減衰)なども取り揃えています。これらの多くの製品には、表示・解析用ソフトウェアが付属します。
また、入力電圧信号を分析してパワースペクトル密度(PSD)または相対ノイズ強度(RIN)を測定することで光学システムのノイズを識別する、強度ノイズアナライザもございます。