Products Home赤外域(IR)用バンドパスフィルタ、 中心波長1.75～12.00 µm
- Pass Region Center Wavelengths from 1.75 to 12.00 µm
- Wideband Filters with 500 nm Bandwidth (FWHM)
- Absorption Line Filters with 100 to 250 nm Bandwidths
- Ø1" or Ø25 mm Mounted Filters
FB2250-500
Wideband Filter, 2.25 µm CWL
Transmission Direction Indicator
FB5330-250
Narrowband Filter, 5.33 µm CWL
FB4260-105
Narrowband Filter, 4.26 µm CWL
FB8500-500
Wideband Filter, 8.5 µm CWL
Please Wait
| Common Specifications | ||
|---|---|---|
| Type | Wideband | Narrowband |
| Housing Diameter | 1" (25.4 mm) | 25 mm (0.98") |
| Housing Diameter Tolerance | +0.0 / -0.2 mm | |
| Housing Thickness | 6.1 mm | 3.5 mm |
| Housing Thickness Tolerance | +0.00 / -0.10 mm | |
| Surface/Coating Quality | 80-50 Scratch-Dig | 60-40 Scratch-Dig |
| Edge Treatment | Mounted in Black Anodized Aluminum Ring | |
| Edge Markings | (Item #) ↓ (Arrow Points in the Direction of Light Transmission) | |
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固定リングでフリップマウントTRF90(/M)に取り付けられたバンドパスフィルタ
特長
- 中心波長:1.75～12.00 µm
- 広帯域フィルタ バンド幅:500 nm(FWHM)
- 狭帯域フィルタ バンド幅:100～250 nm (ガス吸収線用に設計)
- 中心波長における最小透過率:60%以上
- Ø25 mmまたはØ25.4 mm(Ø1インチ)のマウント付きフィルタ(有効径Ø21 mm)
こちらのページでは中心波長が1.75～12.00 µmのバンドパスフィルタをご紹介しています。下の青いアイコン (
)をクリックすると各フィルタの透過率曲線がご覧いただけます。黒色アルマイト加工されたリングに接着剤で固定されており、当社のSM1レンズチューブに取り付け可能です。これらのフィルタはコーティングされた1枚の基板から製造されているため、当社のUV域、可視域、近赤外域のバンドパスフィルタよりも長寿命です。このようにして作られたフィルタはマウント無しでご使用いただいても損傷はしにくいですが、透過阻止域の透過率に影響が現れる可能性があります。なお、このフィルタはご購入後にマウントから取り外すことはできません。マウント無しのフィルタをご希望の場合は当社までお問い合わせください。
このバンドパスフィルタをご使用いただくと、簡単に不要な波長の光を除去し、特定の波長域の光だけを透過させることができます。このフィルタは基本的には真空蒸着で形成された薄膜によるファブリペロー干渉計であり、偶数次スペーサ層で分離された2つの反射層から構成されています。このような反射層は、高低2種の屈折率からなる物質で構成され、反射率は99.99%を超えることがあります。スペーサ層の厚みおよび反射層の数の両方または片方を変えることで、フィルタの中心波長および帯域を変えることができます。
下記フィルタの中には、1.90 µm (H2O)、3.33 µm (CH4)、4.26 µm (CO2)、5.068 µm (H2O)または5.33 µm (NO)のガス吸収線用に設計されているフィルタもございます。これらのフィルタの透過帯域は狭く、透過率のピークも急峻です。下の表の緑色でハイライトされている製品がガス吸収線用の狭帯域フィルタです。
各フィルタは黒色アルマイト加工されたリングに収められ、そこには左の図のように光の伝播方向を示す矢印が刻印されています。このリングが付いていることで取扱いがしやすく、散乱が抑制されて透過阻止性能(OD値)も向上します。このフィルタは、当社のフィルターマウントやフィルターホイールに取り付けることができます。マウントにはネジが切られていないため、このフィルタを当社の内ネジ付きSM1レンズチューブに取り付ける際は、固定リングが必要になります。
| Additional Bandpass Filters | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| UV/VIS Hard-Coated Bandpass Filters 300 - 694 nm CWLs | Wedged Hard-Coated Bandpass Filters 532 - 785 nm CWLs | NIR Hard-Coated Bandpass Filters 700 - 2000 nm CWLs | IR Bandpass Filters 1750 - 12 000 nm CWLs | Bandpass Filter Kits | |
| 当社では、中心波長やFWHMの異なる、カスタムバンドパスフィルタもご提供しています。お見積に関しては当社までお問い合わせください。 | |||||
| Damage Threshold Specifications | |
|---|---|
| Item # | Damage Threshold |
| FB3250-500 | Pulsed: 6 J/cm2 (2940 nm, 250 µs, 2 Hz, Ø0.265 mm) |
赤外域(IR)バンドパスフィルタの損傷閾値
右の仕様は当社の赤外域(IR)バンドパスフィルタの損傷閾値の測定値です。
レーザによる損傷閾値について
このチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。お客様のアプリケーションにおいて、光学素子を選択する際、光学素子のレーザによる損傷閾値(Laser Induced Damage Threshold ：LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。一方、パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。
テスト方法
当社のLIDTテストは、ISO/DIS 11254およびISO 21254に準拠しています。
初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。
上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。このテストは、損傷を受ける前のレーザのエネルギは0.43 J/cm2 (1064 nm、10 ns pulse、 10 Hz、Ø1.000 mm)でした。
| Example Test Data | |||
|---|---|---|---|
| Fluence | # of Tested Locations | Locations with Damage | Locations Without Damage |
| 1.50 J/cm2 | 10 | 0 | 10 |
| 1.75 J/cm2 | 10 | 0 | 10 |
| 2.00 J/cm2 | 10 | 0 | 10 |
| 2.25 J/cm2 | 10 | 1 | 9 |
| 3.00 J/cm2 | 10 | 1 | 9 |
| 5.00 J/cm2 | 10 | 9 | 1 |
試験結果によれば、ミラーの損傷閾値は 2.00 J/cm2 (532 nm、10 ns pulse、10 Hz、 Ø0.803 mm)でした。尚、汚れや汚染によって光学素子の損傷閾値は大幅に低減されるため、こちらの試験はクリーンな光学素子で行っています。また、特定のロットのコーティングに対してのみ試験を行った結果ではありますが、当社の損傷閾値の仕様は様々な因子を考慮して、実測した値よりも低めに設定されており、全てのコーティングロットに対して適用されています。
CWレーザと長パルスレーザ
光学素子がCWレーザによって損傷を受けるのは、通常バルク材料がレーザのエネルギを吸収することによって引き起こされる溶解、あるいはAR(反射防止)コーティングのダメージによるものです[1]。1 µsを超える長いパルスレーザについてLIDTを論じる時は、CWレーザと同様に扱うことができます。
パルス長が1 nsと1 µs の間のときは、損傷は吸収、もしくは絶縁破壊のどちらかで発生していると考えることができます(CWとパルスのLIDT両方を調べなければなりません)。吸収は光学素子の固有特性によるものか、表面の不均一性によるものかのどちらかによって起こります。従って、LIDTは製造元の仕様以上の表面の質を有する光学素子にのみ有効です。多くの光学素子は、ハイパワーCWレーザで扱うことができる一方、アクロマティック複レンズのような接合レンズやNDフィルタのような高吸収光学素子は低いCWレーザ損傷閾値になる傾向にあります。このような低い損傷閾値は接着剤や金属コーティングにおける吸収や散乱によるものです。
線形パワー密度におけるLIDTに対するパルス長とスポットサイズ。長パルス～CWでは線形パワー密度はスポットサイズにかかわらず一定です。 このグラフの出典は[1]です。
繰返し周波数(prf)の高いパルスレーザは、光学素子に熱的損傷も引き起こします。この場合は吸収や熱拡散率のような因子が深く関係しており、残念ながらprfの高いレーザが熱的影響によって光学素子に損傷を引き起こす場合の信頼性のあるLIDTを求める方法は確立されておりません。prfの大きいビームでは、平均出力およびピークパワーの両方を等しいCW出力と比較する必要があります。また、非常に透過率の高い材料では、prfが上昇してもLIDTの減少は皆無かそれに近くなります。
ある光学素子の固有のCWレーザの損傷閾値を使う場合には、以下のことを知る必要があります。
- レーザの波長
- ビーム径(1/e2)
- ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
- レーザのパワー密度(トータルパワーをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。この条件下では、出力密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません(右グラフ参照)。平均線形パワー密度は、下の計算式で算出できます。
ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。次に、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときはビームの強度が1/e2の2倍のパワー密度を有します(右下図参照)。
次に、光学素子のLIDTの仕様の最大パワー密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です。おおよその目安として参考にできるのは、損傷閾値は波長に対して比例関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(つまり、1310 nmで10 W/cmのLIDTならば、655 nmでは5 W/cmと見積もります)。
この目安は一般的な傾向ですが、LIDTと波長の関係を定量的に示すものではありません。例えば、CW用途では、損傷はコーティングや基板の吸収によってより大きく変化し、必ずしも一般的な傾向通りとはなりません。上記の傾向はLIDT値の目安として参考にしていただけますが、LIDTの仕様波長と異なる場合には当社までお問い合わせください。パワー密度が光学素子の補正済みLIDTよりも小さい場合、この光学素子は目的の用途にご使用いただけます。
当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社は個別の情報やテスト結果の証明書を発行することもできます。損傷解析は、類似した光学素子を用いて行います(お客様の光学素子には損傷は与えません)。試験の費用や所要時間などの詳細は、当社までお問い合わせください。
パルスレーザ
先に述べたように、通常、パルスレーザはCWレーザとは異なるタイプの損傷を光学素子に引き起こします。パルスレーザは損傷を与えるほど光学素子を加熱しませんが、光学素子から電子をひきはがします。残念ながら、お客様のレーザに対して光学素子のLIDTの仕様を照らし合わせることは非常に困難です。パルスレーザのパルス幅に起因する光学素子の損傷には、複数の形態があります。以下の表中のハイライトされた列は当社の仕様のLIDT値が当てはまるパルス幅に対する概要です。
パルス幅が10-9 sより短いパルスについては、当社の仕様のLIDT値と比較することは困難です。この超短パルスでは、多光子アバランシェ電離などのさまざまなメカニクスが損傷機構の主流になります[2]。対照的に、パルス幅が10-7 sと10-4 sの間のパルスは絶縁破壊、または熱的影響により光学素子の損傷を引き起こすと考えられます。これは、光学素子がお客様の用途に適しているかどうかを決定するために、レーザービームに対してCWとパルス両方による損傷閾値を参照しなくてはならないということです。
| Pulse Duration | t < 10-9 s | 10-9 < t < 10-7 s | 10-7 < t < 10-4 s | t > 10-4 s |
|---|---|---|---|---|
| Damage Mechanism | Avalanche Ionization | Dielectric Breakdown | Dielectric Breakdown or Thermal | Thermal |
| Relevant Damage Specification | No Comparison (See Above) | Pulsed | Pulsed and CW | CW |
お客様のパルスレーザに対してLIDTを比較する際は、以下のことを確認いただくことが重要です。
エネルギ密度におけるLIDTに対するパルス長＆スポットサイズ。短パルスでは、エネルギ密度はスポットサイズにかかわらず一定です。このグラフの出典は[1]です。
- レーザの波長
- ビームのエネルギ密度(トータルエネルギをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
- レーザのパルス幅
- パルスの繰返周波数(prf)
- 実際に使用するビーム径(1/e2 )
- ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
ビームのエネルギ密度はJ/cm2の単位で計算します。右のグラフは、短パルス光源には、エネルギ密度が適した測定量であることを示しています。この条件下では、エネルギ密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません。ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。ここで、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときは一般にビームの強度が1/e2のときの2倍のパワー密度を有します。
次に、光学素子のLIDTの仕様と最大エネルギ密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です[3]。経験則から、損傷閾値は波長に対して以下のような平方根の関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(例えば、1064 nmで 1 J/cm2のLIDTならば、532 nmでは0.7 J/cm2と計算されます)。
波長を補正したエネルギ密度を得ました。これを以下のステップで使用します。
ビーム径は損傷閾値を比較する時にも重要です。LIDTがJ/cm2の単位で表される場合、スポットサイズとは無関係になりますが、ビームサイズが大きい場合、LIDTの不一致を引き起こす原因でもある不具合が、より明らかになる傾向があります[4]。ここで示されているデータでは、LIDTの測定には＜1 mmのビーム径が用いられています。ビーム径が5 mmよりも大きい場合、前述のようにビームのサイズが大きいほど不具合の影響が大きくなるため、LIDT (J/cm2)はビーム径とは無関係にはなりません。
次に、パルス幅について補正します。パルス幅が長くなるほど、より大きなエネルギに光学素子は耐えることができます。パルス幅が1～100 nsの場合の近似式は以下のようになります。
お客様のレーザのパルス幅をもとに、光学素子の補正されたLIDTを計算するのにこの計算式を使います。お客様の最大エネルギ密度が、この補正したエネルギ密度よりも小さい場合、その光学素子はお客様の用途でご使用いただけます。ご注意いただきたい点は、10-9 s と10-7 sの間のパルスにのみこの計算が使えることです。パルス幅が10-7 sと10-4 sの間の場合には、CWのLIDTも調べなければなりません。
当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社では個別のテスト情報やテスト結果の証明書を発行することも可能です。詳細は、当社までお問い合わせください。
[1] R. M. Wood, Optics and Laser Tech. 29, 517 (1998).
[2] Roger M. Wood, Laser-Induced Damage of Optical Materials (Institute of Physics Publishing, Philadelphia, PA, 2003).
[3] C. W. Carr et al., Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[4] N. Bloembergen, Appl. Opt. 12, 661 (1973).
レーザーシステムが光学素子に損傷を引き起こすかどうか判断するプロセスを説明するために、レーザによって引き起こされる損傷閾値(LIDT)の計算例をいくつかご紹介します。同様の計算を実行したい場合には、右のボタンをクリックしてください。計算ができるスプレッドシートをダウンロードいただけます。ご使用の際には光学素子のLIDTの値と、レーザーシステムの関連パラメータを緑の枠内に入力してください。スプレッドシートでCWならびにパルスの線形パワー密度、ならびにパルスのエネルギ密度を計算できます。これらの値はスケーリング則に基づいて、光学素子のLIDTの調整スケール値を計算するのに用いられます。計算式はガウシアンビームのプロファイルを想定しているため、ほかのビーム形状(均一ビームなど)には補正係数を導入する必要があります。 LIDTのスケーリング則は経験則に基づいていますので、確度は保証されません。なお、光学素子やコーティングに吸収があると、スペクトル領域によってLIDTが著しく低くなる場合があります。LIDTはパルス幅が1ナノ秒(ns)未満の超短パルスには有効ではありません。
ガウシアンビームの最大強度は均一ビームの約2倍です。
CWレーザの例
波長1319 nm、ビーム径(1/e2)10 mm、パワー0.5 Wのガウシアンビームを生成するCWレーザーシステム想定します。このビームの平均線形パワー密度は、全パワーをビーム径で単純に割ると0.5 W/cmとなります。
しかし、ガウシアンビームの最大パワー密度は均一ビームの約2倍です(右のグラフ参照)。従って、システムのより正確な最大線形パワー密度は1 W/cmとなります。
アクロマティック複レンズAC127-030-CのCW LIDTは、1550 nmでテストされて350 W/cmとされています。CWの損傷閾値は通常レーザ光源の波長に直接スケーリングするため、LIDTの調整値は以下のように求められます。
LIDTの調整値は350 W/cm x (1319 nm / 1550 nm) = 298 W/cmと得られ、計算したレーザーシステムのパワー密度よりも大幅に高いため、この複レンズをこの用途に使用しても安全です。
ナノ秒パルスレーザの例:パルス幅が異なる場合のスケーリング
出力が繰返し周波数10 Hz、波長355 nm、エネルギ1 J、パルス幅2 ns、ビーム径(1/e2)1.9 cmのガウシアンビームであるNd:YAGパルスレーザーシステムを想定します。各パルスの平均エネルギ密度は、パルスエネルギをビームの断面積で割って求めます。
上で説明したように、ガウシアンビームの最大エネルギ密度は平均エネルギ密度の約2倍です。よって、このビームの最大エネルギ密度は約0.7 J/cm2です。
このビームのエネルギ密度を、広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDT 1 J/cm2、そしてNd:YAGレーザーラインミラーNB1-K08のLIDT 3.5 J/cm2と比較します。LIDTの値は両方とも、波長355 nm、パルス幅10 ns、繰返し周波数10 Hzのレーザで計測しました。従って、より短いパルス幅に対する調整を行う必要があります。 1つ前のタブで説明したようにナノ秒パルスシステムのLIDTは、パルス幅の平方根にスケーリングします:
この調整係数により広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDTは0.45 J/cm2に、Nd:YAGレーザーラインミラーのLIDTは1.6 J/cm2になり、これらをビームの最大エネルギ密度0.7 J/cm2と比較します。広帯域ミラーはレーザによって損傷を受ける可能性があり、より特化されたレーザーラインミラーがこのシステムには適していることが分かります。
ナノ秒パルスレーザの例:波長が異なる場合のスケーリング
波長1064 nm、繰返し周波数2.5 Hz、パルスエネルギ100 mJ、パルス幅10 ns、ビーム径(1/e2)16 mmのレーザ光を、NDフィルタで減衰させるようなパルスレーザーシステムを想定します。これらの数値からガウシアン出力における最大エネルギ密度は0.1 J/cm2になります。Ø25 mm、OD 1.0の反射型NDフィルタ NDUV10Aの損傷閾値は355 nm、10 nsのパルスにおいて0.05 J/cm2で、同様の吸収型フィルタ NE10Aの損傷閾値は532 nm、10 nsのパルスにおいて10 J/cm2です。1つ前のタブで説明したように光学素子のLIDTは、ナノ秒パルス領域では波長の平方根にスケーリングします。
スケーリングによりLIDTの調整値は反射型フィルタでは0.08 J/cm2、吸収型フィルタでは14 J/cm2となります。このケースでは吸収型フィルタが光学損傷を防ぐには適した選択肢となります。
マイクロ秒パルスレーザの例
パルス幅1 µs、パルスエネルギ150 µJ、繰返し周波数50 kHzで、結果的にデューティーサイクルが5%になるレーザーシステムについて考えてみます。このシステムはCWとパルスレーザの間の領域にあり、どちらのメカニズムでも光学素子に損傷を招く可能性があります。レーザーシステムの安全な動作のためにはCWとパルス両方のLIDTをレーザーシステムの特性と比較する必要があります。
この比較的長いパルス幅のレーザが、波長980 nm、ビーム径(1/e2)12.7 mmのガウシアンビームであった場合、線形パワー密度は5.9 W/cm、1パルスのエネルギ密度は1.2 x 10-4 J/cm2となります。これをポリマーゼロオーダ1/4波長板WPQ10E-980のLIDTと比較してみます。CW放射に対するLIDTは810 nmで5 W/cm、10 nsパルスのLIDTは810 nmで5 J/cm2です。前述同様、光学素子のCW LIDTはレーザ波長と線形にスケーリングするので、CWの調整値は980 nmで6 W/cmとなります。一方でパルスのLIDTはレーザ波長の平方根とパルス幅の平方根にスケーリングしますので、1 µsパルスの980 nmでの調整値は55 J/cm2です。光学素子のパルスのLIDTはパルスレーザのエネルギ密度よりはるかに大きいので、個々のパルスが波長板を損傷することはありません。しかしレーザの平均線形パワー密度が大きいため、高出力CWビームのように光学素子に熱的損傷を引き起こす可能性があります。
| Posted Comments: | |
JAMES LYNN
(posted 2023-10-23 19:57:34.29) What is the effective index of refraction of the coating? I intend to tip tune the filter and am needing to figure out the angle shift. cdolbashian
(posted 2023-10-27 03:49:46.0) Thank you for reaching out to us with this inquiry. Unfortunately we cannot share this type of information, as we consider it proprietary. I have reached out to you in order to suggest some methods to determine this on your own experimentally. user
(posted 2023-03-14 16:07:37.8) Dear Sir/Madam
In the overveiw tab I see a FB2500-500 filter (assuming center wavelength is 2500 nm and the bandwidth is 500 nm). Right now I looking for such filter but in the product list I cannot see this item. jdelia
(posted 2023-03-16 08:21:24.0) Thank you for contacting Thorlabs. The FB2500-500 has unfortunately been obsolete since 2019. We apologize for any inconvenience this may cause. I have reached out to you directly regarding alternative options. Kiera Daughtry
(posted 2023-02-27 14:06:42.817) Can you please make this again, I need it for an experiment jdelia
(posted 2023-03-03 09:31:07.0) Thank you for contacting Thorlabs. At this time, we unfortunately do not have any plans to reintroduce the obsolete FB3000-500. We apologize for the inconvenience. However, I have contacted you directly to discuss alternative recommendations. Michele Cotrufo
(posted 2022-02-01 14:00:36.637) Can the central wavelength of these filters be tuned by tilting them? jdelia
(posted 2022-02-09 10:34:18.0) Thank you for contacting Thorlabs. Yes, there is a non-linear relationship between central wavelength and angle of incidence for our bandpass filter. I have reached out to you directly to discuss this further. Mina Hanna
(posted 2021-12-29 20:09:01.967) We would be extremely interested in getting these free standing gold BPFs made, we're mostly interested in BPFs with ~1 THz bandwidths from 8-14 THz.
Willing to pay a lot more given that they are now discontinued. Do you have any in stock remaining? Can you manufacture more?
Best,
Mina cdolbashian
(posted 2022-01-05 10:30:53.0) Thank you for reaching out to us at Thorlabs. Because the manufacturing process for these filters is complex and demanding, we assess the feasibility of this custom on a case by case basis. As such, I have contacted you directly to discuss your requirements further. Van Rudd
(posted 2020-09-29 15:02:28.597) Can these filters be used in a cryo-cooler? i.e. how low a temperature can I take them before they damage? asundararaj
(posted 2020-09-30 03:11:16.0) Thank you for contacting Thorlabs. We spec a minimum operating temperature of -50 °C and -40 °C for most of these filters and -20°C for the FB5330-250. We would not recommend using these at temperatures below the specified. user
(posted 2020-08-03 08:32:59.693) Can I use this filter for operate with radiation: 60 fs, 24MHz, radius 10 mm, and peak power 220 kWt? nbayconich
(posted 2020-08-04 11:04:41.0) Thank you for contacting Thorlabs, we have not tested these products with femtosecond pulsed sources at the moment. Given that these filters have a relatively high absorptive component we would not recommend using these types of filters under these conditions as the source could potentially damage the filters. William Furnas
(posted 2020-01-17 14:48:11.47) I have one FB2500-500
That the coating is flaking off.
I was purchased summer of 2017.
Is this serious deterioration to be expected?
-Bill nbayconich
(posted 2020-01-21 08:12:51.0) I have reached out to you directly to gather information regarding the environmental/operating conditions this optic was used in. For additional rigidity, we recommend using our Hard-Coated line of filters instead if available for your wavelength of interest. josh.silverstone
(posted 2016-01-04 22:54:09.827) These would be even better with a 1/2" option, compatible with your FibreBench system. Great to see Thorlabs moving into this space though! besembeson
(posted 2016-01-05 08:36:42.0) Response from Bweh at Thorlabs USA. Thanks for your feedback. We can provide half inch versions of these filters. We will contact you regarding quoting the half inch version of the FB2000-500. kenpyahoo.com
(posted 2015-08-25 14:34:16.333) How can these filters be mounted on a post mounting system? Do you have a web page to learn how to select your product -how to mount it in this case? jlow
(posted 2015-09-21 10:38:57.0) Response from Jeremy at Thorlabs: These filters have 1" diameter so it can be mounted in fixed mounts like LMR1 or FMP1, which can then be mounted on regular Ø1/2" posts. |
下の表の緑色でハイライトされている製品がガス吸収線用の狭帯域フィルタです。
| Item # | Center Wavelength (CWL) | Full Width at Half Maximum | Transmission at CWL | Blocking | Transmission/ OD Dataa | Operating Temperature | Substrate | Clear Aperture | Housing Thickness |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| FB1750-500 | 1.75 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb |  | -50 to 80 °C | N-BK7 | Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB1900-200 | 1.90 µm ± 28 nm | 200 ± 40 nm | >85% | 0.2 - 12 µmb | | -40 to 80 °C | UV Fused Silica | >Ø21.0 mm | 3.5 mm |
| FB2000-500 | 2.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | N-BK7 | Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB2250-500 | 2.25 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | Sapphire | >Ø21.0 mm | |
| FB3250-500c | 3.25 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | Sapphire | >Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB3330-150 | 3.33 µm ± 17 nm | 150 ± 15 nm | >70% | 0.2 - 12 µmd | | -40 to 80 °C | Fused Silica | >Ø21.0 mm | 3.5 mm |
| FB3500-500 | 3.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | Sapphire | >Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB3750-500 | 3.75 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | |||
| FB4000-500 | 4.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | |||
| FB4250-500 | 4.25 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | |||
| FB4260-105 | 4.26 µm ± 22 nm | 105 ± 10 nm | >70% | 0.2 - 12 µmd | | -40 to 80 °C | Sapphire | >Ø21.0 mm | 3.5 mm |
| FB4500-500 | 4.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | Sapphire | >Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB4750-500 | 4.75 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 0.2 - 12 µmb | | -50 to 80 °C | |||
| FB5000-500 | 5.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 1.8 - 9.5 µmd | | -50 to 80 °C | Ge | Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB5068-100 | 5.068 µm ± 26 nm | 100 ± 15 nm | >70% | 0.2 - 12 µmb | | -40 to 80 °C | Sapphire | >Ø21.0 mm | 3.5 mm |
| FB5330-250 | 5.33 µm ± 27 nm | 250 ± 50 nm | >70% | 0.2 - 12 µmb | | -40 to 80 °C | Sapphire | >Ø21.0 mm | 3.5 mm |
| FB5500-500 | 5.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 1.8 - 9.5 µmd | | -50 to 80 °C | Ge | Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB5750-500 | 5.75 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 1.8 - 9.5 µmd | | -50 to 80 °C | |||
| FB6000-500 | 6.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | 70% (Min) | 1.8 - 9.5 µmd | | -50 to 80 °C |
- をクリックすると、グラフやダウンロード可能なデータがご覧いただけます。測定データにはフレネル反射を含むすべての損失が反映されています。 なお、グラフのデータは典型値を示しており、性能は製造ロット毎に異なる場合があります。
- 透過率＜0.1% (絶対値)
- 損傷閾値:6 J/cm2 (2940 nm, 250 µs, 2 Hz, Ø0.265 mm)
- 透過率＜0.1% (平均値)
| Item # | Center Wavelength (CWL) | Full Width at Half Maximum | Transmission at CWL | Blockinga | Transmission/ OD Datab | Operating Temperature | Substrate | Clear Aperture | Housing Thickness |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| FB6500-500 | 6.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | Si | Ø21.0 mm | 6.1 mm |
| FB7000-500 | 7.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | Ge | ||
| FB7500-500 | 7.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | Si | ||
| FB8000-500 | 8.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB8500-500 | 8.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB9000-500 | 9.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB9500-500 | 9.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | >70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB10000-500 | 10.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB10500-500 | 10.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 70% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB11000-500 | 11.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 60% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB11500-500 | 11.50 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 60% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C | |||
| FB12000-500 | 12.00 µm ± 50 nm | 500 ± 100 nm | > 60% | 0.2 - 16 µm | | -40 to 80 °C |
- 透過率＜0.1% (平均値)
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バンドパスフィルタ、IR域