Ge増幅フォトディテクター、自由空間光用、組み込み用パッケージ
- Wavelength Range from 800 nm to 1800 nm
- Bandwidth of 510 kHz
- Detector on Printed Circuit Board for OEM Applications
- Switchable Gain Amplification
PDAPC8
Switchable Gain
800 - 1800 nm
510 kHz Max Bandwidth
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組み込み用パッケージ向けの自由空間光用増幅フォトディテクタは、30 mmケージシステムへの組み込みが可能です。上の写真のケージシステム例では、30 mmケージプレートCP33(/M)に取り付けた平凸レンズLA4148-CでフォトディテクタPDAPC8に光を集光させています。
Item # | Wavelength Range | Bandwidth | Noise Equivalent Power (NEP) |
---|---|---|---|
Switchable Gain | |||
PDAPC8a | 800 - 1800 nm | DC - 510 kHzb | 4.63 - 176 pW/Hz1/2 |
特長
- 利得切り替え型の低ノイズ増幅ディテクタ、対応波長範囲800~1800 nm
- 50 Ω以上の負荷インピーダンスに対応
- 自由空間光結合
- 基板上のヘッダーピンおよびMMCXメス型コネクタにより出力部にアクセス可能
当社では近赤外(NIR)の波長域に感度がある自由空間光用ゲルマニウム(Ge)増幅フォトディテクタをご用意しております。 この増幅フォトディテクタには、低ノイズのトランスインピーダンスアンプ(TIA)が内蔵されており、8段階の利得切り替え機能も付いています。利得の調整は基板上のヘッダーピンを介して行うか、または4つのDIPスイッチを使用して手動で行うことができます。
このフォトディテクタは、プリント回路基板(PCB)背面にあるジャンパまたはMMCXコネクタの2種類の出力部を通じて、50 Ω~Hi-Zの負荷へ出力します。各ディテクタのPCBにはØ3.2 mmの貫通穴が4つ、30 mm正方格子上に配置されており、当社の30 mmケージシステムまたはカスタム仕様の筐体やデバイスに取り付けられるようになっています。
電源
100、120、230 VACの入力電圧に対応する±12 Vのリニア電源は、別売りです(下記参照)。電圧供給用の電源に接続する前に、電源モジュールの電圧入力用スイッチが適切な電圧範囲に設定されていることをご確認ください。電源へのAC電源投入は、電源本体のパワースイッチで行ってください。本体のスイッチを入れたままAC電源に接続することはお勧めしません。
Performance Specifications | |||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|
Item # | Wavelength | Bandwidth | Rise Time | Peak Responsivity | Noise Equivalent Power (NEP)a | Active Area | Operating Temperature Range |
PDAPC8b | 800 - 1800 nm | DC - 510 kHzc | N/Ad | 0.85 A/W @ 1550 nm | 4.63 - 176 pW/Hz1/2 | 19.6 mm2 (Ø5 mm) | 10 to 40 °C |
Gain Specifications | |||||||||
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Item # | Gain Step (dB) | Gain w/ Hi-Z Load | Gain w/ 50 Ω Load | Bandwidtha | Noise (RMS) | Noise Equivalent Power (NEP)b | Offset (±) | Output Voltage w/ Hi-Z Load | Output Voltage w/ 50 Ω Load |
PDAPC8 | 0 | 1.51 kV/A ± 2% | 0.75 kV/A ± 2% | 510 kHz | 220 µV | 176 pW/Hz1/2 | 15 mV (20 mV Max) | 0 - 10 V | 0 - 5 V |
10 | 4.75 kV/A ± 2% | 2.38 kV/A ± 2% | 270 kHz | 233 µV | 87.7 pW/Hz1/2 | ||||
20 | 15 kV/A ± 2% | 7.5 kV/A ± 2% | 85 kHz | 223 µV | 19.5 pW/Hz1/2 | ||||
30 | 47.5 kV/A ± 2% | 23.8 kV/A ± 2% | 22 kHz | 230 µV | 6.41 pW/Hz1/2 | ||||
40 | 151 kV/A ± 2% | 75 kV/A ± 2% | 6.3 kHz | 220 µV | 4.63 pW/Hz1/2 | ||||
50 | 475 kV/A ± 2% | 238 kV/A ± 2% | 2 kHz | 231 µV | 48.3 pW/Hz1/2 | ||||
60 | 1.50 MV/A ± 5% | 750 kV/A ± 5% | 630 Hz | 247 µV | 6.73 pW/Hz1/2 | ||||
70 | 4.75 MV/A ± 5% | 2.38 MV/A ± 5% | 210 Hz | 333 µV | 10.4 pW/Hz1/2 |
J2ヘッダーピン | |||||||||||||||||||||||||
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DIPスイッチ | ||||||||||
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利得設定 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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メス型MMCX |
0~5 V (50 Ω) 0~10 V (Hi-Z) |
フォトダイオードのチュートリアル
動作原理
接合型フォトダイオードは、通常の信号ダイオードと似た動作をする部品ですが、接合半導体の空乏層が光を吸収すると、光電流を生成する性質があります。フォトダイオードは、高速なリニアデバイスで、高い量子効率を達成し、様々な用途で利用することが可能です。
入射光の強度に応じた、出力電流レベルと受光感度を正確に把握することが必要とされます。図1は、接合型フォトダイオードのモデル図で、基本的な部品要素が図示されており、フォトダイオードの動作原理が説明されています。
図1:フォトダイオードの概略図
フォトダイオード関連用語
受光感度
フォトダイオードの受光感度は、規定の波長における、生成光電流 (IPD)と入射光パワー(P)の比であると定義できます。
Photoconductiveモード(光導電モード)とPhotovoltaicモード(光起電力モード)
フォトダイオードは、Photoconductiveモード(逆バイアス) またはPhotovoltaicモード(ゼロバイアス)で動作できます。 モードの選択は、使用用途で求められる速度と、許容される暗電流(漏れ電流)の量で決まります。
Photoconductiveモード(光導電モード)
Photoconductiveモードでは、逆バイアスが印加されますが、これが当社のDETシリーズディテクタの基本です。回路で測定できる電流量はフォトダイオードに照射される光の量を反映します。つまり、測定される出力電流は、入射される光パワーに対しリニアに比例します。逆バイアスを印加すると、空乏層を広げて反応領域が広くなるため、接合容量が小さくなり、良好な線形応答が得られます。このような動作条件下では、暗電流が大きくなりがちですが、フォトダイオードの種類を選ぶことで、暗電流を低減することもできます。(注:当社のDETディテクタは逆バイアスで、順方向バイアスでは動作できません。)
Photovoltaicモード(光起電力モード)
Photovoltaicモードでは、フォトダイオードはゼロバイアスで使用されます。デバイスからの電流の流れが制限されると電位が上昇します。このモードでは光起電力効果が引き起こされますが、これが太陽電池の基本です。Photovoltaicモードでは、暗電流は小さくなります。
暗電流
暗電流とは、フォトダイオードにバイアス電圧が付加されている時に流れる漏れ電流です。Photoconductiveモードで使用する場合に暗電流の値は高くなりがちで、温度の影響も受けます。 暗電流は、温度が10°C上昇するごとに約2倍となり、シャント抵抗は6°C の上昇に伴い倍になります。高いバイアスを付加すれば、接合容量は小さくなりますが、暗電流の量は増大してしまいます。
暗電流の量はフォトダイオードの材料や検出部の寸法によっても左右されます。ゲルマニウム製のデバイスでは暗電流は高くなり、それと比較するとシリコン製のデバイスは一般的には低い暗電流となります。下表では、いくつかのフォトダイオードに使用される材料の暗電流の量と共に、速度、感度とコストを比較しています。
Material | Dark Current | Speed | Spectral Range | Cost |
---|---|---|---|---|
Silicon (Si) | Low | High Speed | Visible to NIR | Low |
Germanium (Ge) | High | Low Speed | NIR | Low |
Gallium Phosphide (GaP) | Low | High Speed | UV to Visible | Moderate |
Indium Gallium Arsenide (InGaAs) | Low | High Speed | NIR | Moderate |
Indium Arsenide Antimonide (InAsSb) | High | Low Speed | NIR to MIR | High |
Extended Range Indium Gallium Arsenide (InGaAs) | High | High Speed | NIR | High |
Mercury Cadmium Telluride (MCT, HgCdTe) | High | Low Speed | NIR to MIR | High |
接合容量
接合容量(Cj)は、フォトダイオードの帯域幅と応答特性に大きな影響を与えるので、フォトダイオードの重要な特性となります。ダイオードの面積が大きいと、接合容量が大きくなり、電荷容量は大きくなります。逆バイアスの用途では、接合部の空乏層が大きくなるので、接合容量が小さくなり、応答速度が速くなります。
帯域幅と応答性
負荷抵抗とフォトディテクタの接合容量により帯域幅が制限されます。最善の周波数応答を得るには、50 Ωの終端装置を50 Ωの同軸ケーブルと併用します。接合容量(Cj)と負荷抵抗値(RLOAD)により、帯域幅(fBW)と立ち上がり時間応答(tr)の概算値が得られます。
雑音等価電力
雑音等価電力(NEP:Noise Equivalent Power)とは、出力帯域幅1 Hzでの信号対雑音比(SNR)が1になる入力信号のパワーです。NEPによって、ディテクタが低レベルの光を検知する能力を知ることができるので、この数値は便利です。一般には、NEPはディテクタの検出部の面積増加に伴って大きくなり、下記の数式で求めることができます。
この数式において、S/Nは信号対雑音比、Δf はノイズの帯域幅で、入射エネルギ単位はW/cm2となっています。詳細は、当社のホワイトペーパー「NEP – Noise Equivalent Power」をご覧ください。
終端抵抗
オシロスコープでの測定を可能にするためには、生成された光電流を電圧(VOUT)に変換する必要がありますが、負荷抵抗を用いて電圧変換します。
フォトダイオードの種類によっては、負荷抵抗が応答速度に影響を与える場合があります。最大帯域幅を得るには、50 Ωの同軸ケーブルを使用して、ケーブルの反対側の終端部で50 Ωの終端抵抗器の使用を推奨しています。このようにすることで、ケーブルの特性インピーダンスとマッチングできて共鳴が最小化できます。帯域幅が重要ではない特性の場合は、RLOADを増大させることで、所定の光レベルに対して電圧を大きくすることができます。終端部が不整合の場合、同軸ケーブルの長さが応答特性に対して大きな影響を与えます。したがってケーブルはできるだけ短くしておくことが推奨されます。
シャント抵抗
シャント抵抗は、ゼロバイアスフォトダイオード接合の抵抗を表します。理想的なフォトダイオードでは、シャント抵抗は無限大となりますが、実際の数値はフォトダイオードの材料の種類によって、10Ωのレベルから 数千MΩの範囲となる場合があります。例えばInGaAsディテクタのシャント抵抗は、10 MΩのレベルですが、GeディテクタはkΩのレベルです。このことは、フォトダイオードのノイズ電流に大きく影響を与える可能性があります。しかしながらほとんどの用途では、ある程度高い抵抗値であればその影響は小さく、無視できる程度です。
直列抵抗
直列抵抗は半導体材料の抵抗値で、この低い抵抗値は、通常は無視できる程度です。直列抵抗は、フォトダイオードの接触接続部とワイヤ接続部で発生し、ゼロバイアスの条件下でのフォトダイオードのリニアリティの主な決定要因になります。
一般的な動作回路
図2: 逆バイアス回路(DETシリーズディテクタ)
上図の回路はDETシリーズのディテクタをモデル化したものです。ディテクタは、入射光に対して線形の応答を得るために逆バイアス状態になっています。ここで生成された光電流の量は、入射光と波長に依存し、負荷抵抗を出力端子に接続すると、オシロスコープでモニタリングできます。RCフィルタの機能は、出力に雑音を載せてしまう可能性のある供給電力からの高周波雑音のフィルタリングです。
図3: 増幅ディテクタ回路
高利得用途でアンプとともにフォトディテクタを使用できます。動作時には、PhotovoltaicモードまたはPhotoconductiveモードのいずれも選択可能です。このアクティブ回路はいくつかの利点があります。
- Photovoltaicモード:オペアンプで、点Aと点Bの電位が同じに維持されているので、フォトダイオードでは回路全体では0 Vに保たれています。このことで暗電流は発生しなくなります。
- Photoconductiveモード: フォトダイオードは逆バイアス状態であるので、接合容量を低下させ、帯域幅の状態を改善します。ディテクタの利得は、フィードバック素子(Rf)に依存します。ディテクタの帯域幅は、下記の数式で計算することができます。
GBPが利得帯域幅積で、CDは接合容量と増幅器の静電容量の和です。
チョッパ入力周波数の影響
光導電信号は時定数の応答限界までは一定となりますが、PbS、 PbSe、HgCdTe (MCT)、InAsSbなどのディテクタにおいては、1/fゆらぎ(チョッパ入力周波数が大きいほどゆらぎは小さくなる)を持つため、低い周波数の入力の場合は影響が大きくなります。
低いチョッパ入力周波数の場合は、ディテクタの受光感度は小さくなります。周波数応答や検出性能は下記の条件の場合において最大となります。
パルスレーザ:パワーとエネルギーの計算
パルスレーザからの放射光が、使用するデバイスや用途に適合するかどうかを判断する上で、レーザの製造元から提供されていないパラメータを参照しなければならない場合があります。このような場合、一般には入手可能な情報から必要なパラメータを算出することが可能です。次のような場合を含めて、必要な結果を得るには、ピークパルスパワー、平均パワー、パルスエネルギ、その他の関連するパラメータを必要とすることがあります。
- 生物試料を損傷させないように保護する
- フォトディテクタなどのセンサにダメージを与えることなくパルスレーザ光を測定する
- 物質内で蛍光や非線形効果を得るために励起を行う
パルスレーザ光のパラメータは下の図1および表に示します。参照用として、計算式の一覧を以下に示します。資料を ダウンロードしていただくと、これらの計算式のほかに、パルスレーザ光の概要、異なるパラメータ間の関係性、および計算式の適用例がご覧いただけます。
計算式 | ||||
、 | ||||
平均パワーから算出するピークパワー、ピークパワーから算出する平均パワー : | ||||
、 | ||||
平均パワーおよびデューティーサイクルから算出するピークパワー*: | ||||
*デューティーサイクル() はレーザのパルス光が放射されている時間の割合です。 |
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図1: パルスレーザ光の特性を記述するためのパラメータを、上のグラフと下の表に示します。パルスエネルギ (E)は、パルス曲線の下側の黄色の領域の面積に対応します。このパルスエネルギは斜線で表された領域の面積とも一致します。
パラメータ | シンボル | 単位 | 説明 | ||
---|---|---|---|---|---|
パルスエネルギ | E | ジュール[J] | レーザの1周期中に放射される1パルスの全放射エネルギ。 パルスエネルギはグラフの黄色の領域の面積に等しく、 これは斜線部分の面積とも一致します。 | ||
周期 | Δt | 秒 [s] | 1つのパルスの開始から次のパルスの開始までの時間 | ||
平均パワー | Pavg | ワット[W] | パルスとして放射されたエネルギが、1周期にわたって 均一に広がっていたと仮定したときの、 光パワーの大きさ(光パワー軸上の高さ) | ||
瞬時パワー | P | ワット[W] | 特定の時点における光パワー | ||
ピークパワー | Ppeak | ワット [W] | レーザから出力される最大の瞬時パワー | ||
パルス幅 | 秒 [s] | パルスの開始から終了までの時間。一般的にはパルス形状の 半値全幅(FWHM)を基準にしています。 パルス持続時間とも呼ばれます。 | |||
繰り返し周波数 | frep | ヘルツ [Hz] | パルス光が放射される頻度を周波数で表示した量。 周期とは逆数の関係です。 |
計算例
下記のパルスレーザ光を測定するのに、最大入力ピークパワーが75 mW
のディテクタを使用するのは安全かどうかを計算してみます。
- 平均パワー: 1 mW
- 繰り返し周波数: 85 MHz
- パルス幅: 10 fs
1パルスあたりのエネルギは、
と低いようですが、ピークパワーは、
となります。このピークパワーはディテクタの
最大入力ピークパワーよりも5桁ほど大きく、
従って、上記のパルスレーザ光を測定するのに
このディテクタを使用するのは安全ではありません。
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下表は、当社のフォトダイオードタイプのディテクタ、フォトコンダクティブ型ディテクタ、焦電ディテクタの一覧です。同一の列に記載されている型番の検出素子は同じです。
Item #a | Package Featuresb | Wavelength Range | Bandwidth Rangec | Gain | Noise Equivalent Power (NEP)d | Typical Performance Graphs | Active Area (Click Link for Image) | Operating Temperature Range | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Hi-Z Load | 50 Ω Load | ||||||||
PDAPC8e | 800 - 1800 nm | DC - 510 kHz | 1.51 kV/A - 4.75 MV/A | 0.75 kV/A - 2.38 MV/A | 4.63 - 176 pW/Hz1/2 | 19.6 mm2 (Ø5 mm) | 10 to 40 °C |
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付属ケーブルのピン配列
Pin # | Assignment |
---|---|
1 | +12 V |
2 | GND |
3 | -12 V |
- PDAPCシリーズフォトディテクタ用の電源(型番LDS12B)とケーブルのセット
- 付属の3ピンケーブルはディテクタボード上のJ2ジャンパとの接続用
- 出力:±12 VDC
- AC入力電圧は切り替え可能(100/120/230 V)
LD1255用電源セットには、電源LDS12Bと、PDAPCシリーズフォトディテクタ(上記参照)に接続するためのケーブルが含まれています。電源筐体のスイッチによりAC入力電圧を100 V、120 V、230 Vから選択できます。付属のケーブルを用いて電源からフォトディテクタに±12 VDCを供給することができます。このケーブルは単体でのご注文も可能ですので、その際は当社までご連絡ください。