近赤外域吸収型NDフィルタ、マウント無し
![](https://www.thorlabs.co.jp/Images/GuideImages/5559_NENIR_Filters_5.jpg)
- Optimized for Attenuation at 1064 nm and 1550 nm
- Ø1/2", Ø25 mm, and 2" x 2" Versions Available
- Good Transmission Through Visible Range for Easy Beam Alignment
- Effective Heat Absorbing Filters
NENIR240B
2" x 2"
NENIR40B
Ø1"
NENIR506B
Ø1/2"
NENIR30B
in an LMR1
Mount
![](../../images/loading-red.gif)
Please Wait
Neutral Density Filter Selection Guide | |
---|---|
Absorptive | |
Uncoated (400 - 650 nm) | Mounted |
Unmounted | |
Uncoated (1000 - 2600 nm) | Mounted |
Unmounted | |
AR Coated (350 - 700 nm) | Mounted |
Unmounted | |
AR Coated (650 - 1050 nm) | Mounted |
Unmounted | |
AR Coated (1050 - 1700 nm) | Mounted |
Unmounted | |
Variable | |
Reflective | |
UV Fused Silica (200 - 1200 nm) | Mounted |
Unmounted | |
N-BK7 (350 - 1100 nm) | Mounted |
Unmounted | |
ZnSe (2 - 16 µm) | Mounted |
Unmounted | |
Wedged UVFS (200 - 1200 nm) | |
Wedged N-BK7 (350 - 1100 nm) | |
Wedged ZnSe (2 - 16 µm) | |
Variable | |
Neutral Density Filter Kits |
特長
- Ø12.7 mm(Ø1/2インチ)、Ø25 mmと50.8 mm(2インチ)角マウント無しフィルタ
- 設計波長:1550 nm
- 0.1~6.0の光学濃度
- 低出力の用途向き (< 1 W。詳細については「仕様」タブをご覧ください。)
- 1000~2600 nmで使用可能
- 可視域波長で良好な透過率(右のグラフ参照)
- 吸収型ガラスが多重反射を抑制
マウント無し近赤外域(NIR)吸収型NDフィルタは0.1~6.0の光学濃度(OD)を有しています。このショートパス/耐熱性のフィルタは可視域で光を透過するので、アライメント済みのビーム光を通し、近赤外域の光を吸収します。このフィルタは、1000~2600 nmで効率的な減衰器として機能します。この製品は熱吸収型フィルタとしても使用可能で、4 µmを超える波長での透過率は< 2%となります。Ø25 mmフィルタは、SM1ネジ付きマウントが付いたタイプもご用意しています。
近赤外域吸収型NDフィルタは、Schott社製ガラス(NG11、KG2、KG3、KG5)から加工されています。ガラスの厚さを変化させることで、4種類のSchott社製ガラスから多くの近赤外域吸収型NDフィルタが作られています。これらの吸収型NDフィルタで得られる平均的な透過率の詳細については、上記の「グラフ」タブをご参照ください。表面反射を低減することでメリットが得られる用途では、波長範囲1050~1700 nm用のARコーティング付き近赤外域用吸収型NDフィルタのご使用をお勧めします。
こちらのページのフィルタはコーティング無しの製品です。コーティング付きおよびコーティング無しの全NDフィルタのラインナップは右表をご覧ください。
光学濃度と透過率
光学濃度(OD)は光学フィルタによりもたらされる減衰率、つまり入射ビームの光パワーをどれだけ減少させるかを示しています。光学濃度(OD)は透過率Tの関数として次の方程式で表されます。
Tは0から1の間の値です。光学濃度の高いNDフィルタ(吸収型)を選択した場合、入射光の吸収率は高く、透過率は低くなります。透過率を高く、吸収率を低くするためには、低い光学濃度のNDフィルタが適切と言えます。例えば、光学濃度2のフィルタでは透過率が0.01であり、フィルタは入射ビームのパワーを1%まで減衰させるという結果になります。当社のNDフィルタの透過率のデータは、パーセント(%)で表示されています。
この製品は、レーザ用安全保護具としてはご利用いただけません。当社では、安全に実験を行っていただくために、迷光の照射を著しく低減できるビームブロックなど、安全保護具や遮光用製品をご用意しております。
ND Filter Size | Ø1/2" (12.7 mm) | Ø25.0 mm | 2" x 2" |
---|---|---|---|
Size Tolerance | +0.0 / -0.2 mm (Diameter) | +0.0 / -0.25 mm (H, L) | |
Clear Aperture | > Ø10.2 mm | > Ø20.0 mm | > 45.7 mm x > 45.7 mm |
Transmitted Wavefront Error | < λ/4 at 633 nm | < λ at 633 nm | |
Design Wavelength | 1550 nm | ||
Wavelength Range | 1000 - 2600 nm | ||
Surface Quality | 40-20 Scratch-Dig | ||
Parallelism | < 10 arcsec | ||
Optical Density Tolerance | ±5% at 1550 nm |
Damage Threshold Specifications | ||
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Optical Density | Damage Threshold | |
1.0 | Pulsed | 8 J/cm2 (1064 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø1.040 mm) 20 J/cm2 (1542 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.144 mm) |
CWa,b | 25 W/cm (1540 nm, Ø1.030 mm) | |
3.0 | CWa,b | 25 W/cm (1064 nm, Ø0.062 mm) |
5.0 | CWa,b | 15 W/cm (1540 nm, Ø1.030 mm) |
光学濃度および透過率データはこちらよりダウンロードいただけます。
フィルタごとの透過率と光学濃度をご覧になるには、下表内の各フィルタに対応するアイコン をクリックしてください。
Damage Threshold Specifications | ||
---|---|---|
Optical Density | Damage Threshold | |
1.0 | Pulsed | 8 J/cm2 (1064 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø1.040 mm) 20 J/cm2 (1542 nm, 10 ns, 10 Hz, Ø0.144 mm) |
CWa,b | 25 W/cm (1540 nm, Ø1.030 mm) | |
3.0 | CWa,b | 25 W/cm (1064 nm, Ø0.062 mm) |
5.0 | CWa,b | 15 W/cm (1540 nm, Ø1.030 mm) |
当社の近赤外域吸収型NDフィルタの損傷閾値データ
右の仕様は当社の近赤外(NIR)域吸収型NDフィルタの測定データです。損傷閾値の仕様は光学濃度が同じであればフィルタのサイズにかかわらず同じです。CWテストでの各箇所の露光時間は30秒です。
レーザによる損傷閾値について
このチュートリアルでは、レーザ損傷閾値がどのように測定され、使用する用途に適切な光学素子の決定にその値をどのようにご利用いただけるかを総括しています。お客様のアプリケーションにおいて、光学素子を選択する際、光学素子のレーザによる損傷閾値(Laser Induced Damage Threshold :LIDT)を知ることが重要です。光学素子のLIDTはお客様が使用するレーザの種類に大きく依存します。連続(CW)レーザは、通常、吸収(コーティングまたは基板における)によって発生する熱によって損傷を引き起こします。一方、パルスレーザは熱的損傷が起こる前に、光学素子の格子構造から電子が引き剥がされることによって損傷を受けます。ここで示すガイドラインは、室温で新品の光学素子を前提としています(つまり、スクラッチ&ディグ仕様内、表面の汚染がないなど)。光学素子の表面に塵などの粒子が付くと、低い閾値で損傷を受ける可能性があります。そのため、光学素子の表面をきれいで埃のない状態に保つことをお勧めします。光学素子のクリーニングについては「光学素子クリーニングチュートリアル」をご参照ください。
テスト方法
当社のLIDTテストは、ISO/DIS 11254およびISO 21254に準拠しています。
初めに、低パワー/エネルギのビームを光学素子に入射します。その光学素子の10ヶ所に1回ずつ、設定した時間(CW)またはパルス数(決められたprf)、レーザを照射します。レーザを照射した後、倍率約100倍の顕微鏡を用いた検査で確認し、すべての確認できる損傷を調べます。特定のパワー/エネルギで損傷のあった場所の数を記録します。次に、そのパワー/エネルギを増やすか減らすかして、光学素子にさらに10ヶ所レーザを照射します。このプロセスを損傷が観測されるまで繰返します。損傷閾値は、光学素子が損傷に耐える、損傷が起こらない最大のパワー/エネルギになります。1つのミラーBB1-E02の試験結果は以下のようなヒストグラムになります。
![LIDT metallic mirror](https://www.thorlabs.co.jp/images/TabImages/LIDT_mirror1.jpg)
上の写真はアルミニウムをコーティングしたミラーでLIDTテストを終えたものです。このテストは、損傷を受ける前のレーザのエネルギは0.43 J/cm2 (1064 nm、10 ns pulse、 10 Hz、Ø1.000 mm)でした。
![LIDT BB1-E02](https://www.thorlabs.co.jp/images/TabImages/LIDT_ExposureHistogram.gif)
Example Test Data | |||
---|---|---|---|
Fluence | # of Tested Locations | Locations with Damage | Locations Without Damage |
1.50 J/cm2 | 10 | 0 | 10 |
1.75 J/cm2 | 10 | 0 | 10 |
2.00 J/cm2 | 10 | 0 | 10 |
2.25 J/cm2 | 10 | 1 | 9 |
3.00 J/cm2 | 10 | 1 | 9 |
5.00 J/cm2 | 10 | 9 | 1 |
試験結果によれば、ミラーの損傷閾値は 2.00 J/cm2 (532 nm、10 ns pulse、10 Hz、 Ø0.803 mm)でした。尚、汚れや汚染によって光学素子の損傷閾値は大幅に低減されるため、こちらの試験はクリーンな光学素子で行っています。また、特定のロットのコーティングに対してのみ試験を行った結果ではありますが、当社の損傷閾値の仕様は様々な因子を考慮して、実測した値よりも低めに設定されており、全てのコーティングロットに対して適用されています。
CWレーザと長パルスレーザ
光学素子がCWレーザによって損傷を受けるのは、通常バルク材料がレーザのエネルギを吸収することによって引き起こされる溶解、あるいはAR(反射防止)コーティングのダメージによるものです[1]。1 µsを超える長いパルスレーザについてLIDTを論じる時は、CWレーザと同様に扱うことができます。
パルス長が1 nsと1 µs の間のときは、損傷は吸収、もしくは絶縁破壊のどちらかで発生していると考えることができます(CWとパルスのLIDT両方を調べなければなりません)。吸収は光学素子の固有特性によるものか、表面の不均一性によるものかのどちらかによって起こります。従って、LIDTは製造元の仕様以上の表面の質を有する光学素子にのみ有効です。多くの光学素子は、ハイパワーCWレーザで扱うことができる一方、アクロマティック複レンズのような接合レンズやNDフィルタのような高吸収光学素子は低いCWレーザ損傷閾値になる傾向にあります。このような低い損傷閾値は接着剤や金属コーティングにおける吸収や散乱によるものです。
線形パワー密度におけるLIDTに対するパルス長とスポットサイズ。長パルス~CWでは線形パワー密度はスポットサイズにかかわらず一定です。 このグラフの出典は[1]です。
![Intensity Distribution](https://www.thorlabs.co.jp/images/TabImages/BeamDist_sm.gif)
繰返し周波数(prf)の高いパルスレーザは、光学素子に熱的損傷も引き起こします。この場合は吸収や熱拡散率のような因子が深く関係しており、残念ながらprfの高いレーザが熱的影響によって光学素子に損傷を引き起こす場合の信頼性のあるLIDTを求める方法は確立されておりません。prfの大きいビームでは、平均出力およびピークパワーの両方を等しいCW出力と比較する必要があります。また、非常に透過率の高い材料では、prfが上昇してもLIDTの減少は皆無かそれに近くなります。
ある光学素子の固有のCWレーザの損傷閾値を使う場合には、以下のことを知る必要があります。
- レーザの波長
- ビーム径(1/e2)
- ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
- レーザのパワー密度(トータルパワーをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
ビームのパワー密度はW/cmの単位で計算します。この条件下では、出力密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません(右グラフ参照)。平均線形パワー密度は、下の計算式で算出できます。
ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。次に、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときはビームの強度が1/e2の2倍のパワー密度を有します(右下図参照)。
次に、光学素子のLIDTの仕様の最大パワー密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です。おおよその目安として参考にできるのは、損傷閾値は波長に対して比例関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(つまり、1310 nmで10 W/cmのLIDTならば、655 nmでは5 W/cmと見積もります)。
この目安は一般的な傾向ですが、LIDTと波長の関係を定量的に示すものではありません。例えば、CW用途では、損傷はコーティングや基板の吸収によってより大きく変化し、必ずしも一般的な傾向通りとはなりません。上記の傾向はLIDT値の目安として参考にしていただけますが、LIDTの仕様波長と異なる場合には当社までお問い合わせください。パワー密度が光学素子の補正済みLIDTよりも小さい場合、この光学素子は目的の用途にご使用いただけます。
当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社は個別の情報やテスト結果の証明書を発行することもできます。損傷解析は、類似した光学素子を用いて行います(お客様の光学素子には損傷は与えません)。試験の費用や所要時間などの詳細は、当社までお問い合わせください。
パルスレーザ
先に述べたように、通常、パルスレーザはCWレーザとは異なるタイプの損傷を光学素子に引き起こします。パルスレーザは損傷を与えるほど光学素子を加熱しませんが、光学素子から電子をひきはがします。残念ながら、お客様のレーザに対して光学素子のLIDTの仕様を照らし合わせることは非常に困難です。パルスレーザのパルス幅に起因する光学素子の損傷には、複数の形態があります。以下の表中のハイライトされた列は当社の仕様のLIDT値が当てはまるパルス幅に対する概要です。
パルス幅が10-9 sより短いパルスについては、当社の仕様のLIDT値と比較することは困難です。この超短パルスでは、多光子アバランシェ電離などのさまざまなメカニクスが損傷機構の主流になります[2]。対照的に、パルス幅が10-7 sと10-4 sの間のパルスは絶縁破壊、または熱的影響により光学素子の損傷を引き起こすと考えられます。これは、光学素子がお客様の用途に適しているかどうかを決定するために、レーザービームに対してCWとパルス両方による損傷閾値を参照しなくてはならないということです。
Pulse Duration | t < 10-9 s | 10-9 < t < 10-7 s | 10-7 < t < 10-4 s | t > 10-4 s |
---|---|---|---|---|
Damage Mechanism | Avalanche Ionization | Dielectric Breakdown | Dielectric Breakdown or Thermal | Thermal |
Relevant Damage Specification | No Comparison (See Above) | Pulsed | Pulsed and CW | CW |
お客様のパルスレーザに対してLIDTを比較する際は、以下のことを確認いただくことが重要です。
エネルギ密度におけるLIDTに対するパルス長&スポットサイズ。短パルスでは、エネルギ密度はスポットサイズにかかわらず一定です。このグラフの出典は[1]です。
- レーザの波長
- ビームのエネルギ密度(トータルエネルギをビームの強度が1/e2の範囲の面積で割ったもの)
- レーザのパルス幅
- パルスの繰返周波数(prf)
- 実際に使用するビーム径(1/e2 )
- ビームのおおよその強度プロファイル(ガウシアン型など)
ビームのエネルギ密度はJ/cm2の単位で計算します。右のグラフは、短パルス光源には、エネルギ密度が適した測定量であることを示しています。この条件下では、エネルギ密度はスポットサイズとは無関係になります。つまり、スポットサイズの変化に合わせてLIDTを計算し直す必要がありません。ここでは、ビーム強度プロファイルは一定であると仮定しています。ここで、ビームがホットスポット、または他の不均一な強度プロファイルの場合を考慮して、おおよその最大パワー密度を計算する必要があります。ご参考までに、ガウシアンビームのときは一般にビームの強度が1/e2のときの2倍のパワー密度を有します。
次に、光学素子のLIDTの仕様と最大エネルギ密度を比較しましょう。損傷閾値の測定波長が光学素子に使用する波長と異なっている場合には、その損傷閾値は適宜補正が必要です[3]。経験則から、損傷閾値は波長に対して以下のような平方根の関係であるということです。短い波長で使う場合、損傷閾値は低下します(例えば、1064 nmで 1 J/cm2のLIDTならば、532 nmでは0.7 J/cm2と計算されます)。
波長を補正したエネルギ密度を得ました。これを以下のステップで使用します。
ビーム径は損傷閾値を比較する時にも重要です。LIDTがJ/cm2の単位で表される場合、スポットサイズとは無関係になりますが、ビームサイズが大きい場合、LIDTの不一致を引き起こす原因でもある不具合が、より明らかになる傾向があります[4]。ここで示されているデータでは、LIDTの測定には<1 mmのビーム径が用いられています。ビーム径が5 mmよりも大きい場合、前述のようにビームのサイズが大きいほど不具合の影響が大きくなるため、LIDT (J/cm2)はビーム径とは無関係にはなりません。
次に、パルス幅について補正します。パルス幅が長くなるほど、より大きなエネルギに光学素子は耐えることができます。パルス幅が1~100 nsの場合の近似式は以下のようになります。
お客様のレーザのパルス幅をもとに、光学素子の補正されたLIDTを計算するのにこの計算式を使います。お客様の最大エネルギ密度が、この補正したエネルギ密度よりも小さい場合、その光学素子はお客様の用途でご使用いただけます。ご注意いただきたい点は、10-9 s と10-7 sの間のパルスにのみこの計算が使えることです。パルス幅が10-7 sと10-4 sの間の場合には、CWのLIDTも調べなければなりません。
当社のウェブ上の損傷閾値の仕様と我々が行った実際の実験の値の間にはある程度の差があります。これはロット間の違いによって発生する誤差を許容するためです。ご要求に応じて、当社では個別のテスト情報やテスト結果の証明書を発行することも可能です。詳細は、当社までお問い合わせください。
[1] R. M. Wood, Optics and Laser Tech. 29, 517 (1997).
[2] Roger M. Wood, Laser-Induced Damage of Optical Materials (Institute of Physics Publishing, Philadelphia, PA, 2003).
[3] C. W. Carr et al., Phys. Rev. Lett. 91, 127402 (2003).
[4] N. Bloembergen, Appl. Opt. 12, 661 (1973).
レーザーシステムが光学素子に損傷を引き起こすかどうか判断するプロセスを説明するために、レーザによって引き起こされる損傷閾値(LIDT)の計算例をいくつかご紹介します。同様の計算を実行したい場合には、右のボタンをクリックしてください。計算ができるスプレッドシートをダウンロードいただけます。ご使用の際には光学素子のLIDTの値と、レーザーシステムの関連パラメータを緑の枠内に入力してください。スプレッドシートでCWならびにパルスの線形パワー密度、ならびにパルスのエネルギ密度を計算できます。これらの値はスケーリング則に基づいて、光学素子のLIDTの調整スケール値を計算するのに用いられます。計算式はガウシアンビームのプロファイルを想定しているため、ほかのビーム形状(均一ビームなど)には補正係数を導入する必要があります。 LIDTのスケーリング則は経験則に基づいていますので、確度は保証されません。なお、光学素子やコーティングに吸収があると、スペクトル領域によってLIDTが著しく低くなる場合があります。LIDTはパルス幅が1ナノ秒(ns)未満の超短パルスには有効ではありません。
![Intensity Distribution](https://www.thorlabs.co.jp/images/TabImages/Pulsed_Laser_Intensity_Distribution-390.gif)
ガウシアンビームの最大強度は均一ビームの約2倍です。
CWレーザの例
波長1319 nm、ビーム径(1/e2)10 mm、パワー0.5 Wのガウシアンビームを生成するCWレーザーシステム想定します。このビームの平均線形パワー密度は、全パワーをビーム径で単純に割ると0.5 W/cmとなります。
しかし、ガウシアンビームの最大パワー密度は均一ビームの約2倍です(右のグラフ参照)。従って、システムのより正確な最大線形パワー密度は1 W/cmとなります。
アクロマティック複レンズAC127-030-CのCW LIDTは、1550 nmでテストされて350 W/cmとされています。CWの損傷閾値は通常レーザ光源の波長に直接スケーリングするため、LIDTの調整値は以下のように求められます。
LIDTの調整値は350 W/cm x (1319 nm / 1550 nm) = 298 W/cmと得られ、計算したレーザーシステムのパワー密度よりも大幅に高いため、この複レンズをこの用途に使用しても安全です。
ナノ秒パルスレーザの例:パルス幅が異なる場合のスケーリング
出力が繰返し周波数10 Hz、波長355 nm、エネルギ1 J、パルス幅2 ns、ビーム径(1/e2)1.9 cmのガウシアンビームであるNd:YAGパルスレーザーシステムを想定します。各パルスの平均エネルギ密度は、パルスエネルギをビームの断面積で割って求めます。
上で説明したように、ガウシアンビームの最大エネルギ密度は平均エネルギ密度の約2倍です。よって、このビームの最大エネルギ密度は約0.7 J/cm2です。
このビームのエネルギ密度を、広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDT 1 J/cm2、そしてNd:YAGレーザーラインミラーNB1-K08のLIDT 3.5 J/cm2と比較します。LIDTの値は両方とも、波長355 nm、パルス幅10 ns、繰返し周波数10 Hzのレーザで計測しました。従って、より短いパルス幅に対する調整を行う必要があります。 1つ前のタブで説明したようにナノ秒パルスシステムのLIDTは、パルス幅の平方根にスケーリングします:
この調整係数により広帯域誘電体ミラーBB1-E01のLIDTは0.45 J/cm2に、Nd:YAGレーザーラインミラーのLIDTは1.6 J/cm2になり、これらをビームの最大エネルギ密度0.7 J/cm2と比較します。広帯域ミラーはレーザによって損傷を受ける可能性があり、より特化されたレーザーラインミラーがこのシステムには適していることが分かります。
ナノ秒パルスレーザの例:波長が異なる場合のスケーリング
波長1064 nm、繰返し周波数2.5 Hz、パルスエネルギ100 mJ、パルス幅10 ns、ビーム径(1/e2)16 mmのレーザ光を、NDフィルタで減衰させるようなパルスレーザーシステムを想定します。これらの数値からガウシアン出力における最大エネルギ密度は0.1 J/cm2になります。Ø25 mm、OD 1.0の反射型NDフィルタ NDUV10Aの損傷閾値は355 nm、10 nsのパルスにおいて0.05 J/cm2で、同様の吸収型フィルタ NE10Aの損傷閾値は532 nm、10 nsのパルスにおいて10 J/cm2です。1つ前のタブで説明したように光学素子のLIDTは、ナノ秒パルス領域では波長の平方根にスケーリングします。
スケーリングによりLIDTの調整値は反射型フィルタでは0.08 J/cm2、吸収型フィルタでは14 J/cm2となります。このケースでは吸収型フィルタが光学損傷を防ぐには適した選択肢となります。
マイクロ秒パルスレーザの例
パルス幅1 µs、パルスエネルギ150 µJ、繰返し周波数50 kHzで、結果的にデューティーサイクルが5%になるレーザーシステムについて考えてみます。このシステムはCWとパルスレーザの間の領域にあり、どちらのメカニズムでも光学素子に損傷を招く可能性があります。レーザーシステムの安全な動作のためにはCWとパルス両方のLIDTをレーザーシステムの特性と比較する必要があります。
この比較的長いパルス幅のレーザが、波長980 nm、ビーム径(1/e2)12.7 mmのガウシアンビームであった場合、線形パワー密度は5.9 W/cm、1パルスのエネルギ密度は1.2 x 10-4 J/cm2となります。これをポリマーゼロオーダ1/4波長板WPQ10E-980のLIDTと比較してみます。CW放射に対するLIDTは810 nmで5 W/cm、10 nsパルスのLIDTは810 nmで5 J/cm2です。前述同様、光学素子のCW LIDTはレーザ波長と線形にスケーリングするので、CWの調整値は980 nmで6 W/cmとなります。一方でパルスのLIDTはレーザ波長の平方根とパルス幅の平方根にスケーリングしますので、1 µsパルスの980 nmでの調整値は55 J/cm2です。光学素子のパルスのLIDTはパルスレーザのエネルギ密度よりはるかに大きいので、個々のパルスが波長板を損傷することはありません。しかしレーザの平均線形パワー密度が大きいため、高出力CWビームのように光学素子に熱的損傷を引き起こす可能性があります。
Posted Comments: | |
Gregor Thalhammer
 (posted 2022-11-25 13:35:42.003) For NENIR50B it is stated that is made from Schott glass HA5, but for smaller size filter NENIR550B it is stated that Schott glass KG5. All other specs are the same for both sizes. I cannot find any information about a glass HA5 from Schott. Could it be that there is an error, NENIR50B is actually made from KG5 glass? Same applies to OD6 filter, large size and mounted filters. jdelia
 (posted 2022-12-08 10:26:55.0) Thank you for contacting Thorlabs. The HA5 glass is not actually made by Schott. It is a substrate manufactured by Hoya Optics that is similar to KG5. I have reached out to you directly with more information on this substrate. Thomas Gisler
 (posted 2022-09-21 09:34:07.717) Good morning,
I am looking for information on transmission tolerances of ND filters in the range 1000nm.. 2300nm.
Thank you! cdolbashian
 (posted 2022-10-04 04:24:30.0) Thank you for reaching out to us Thomas! Our final check for these ND filters involves verifying that the OD is measured to be the specified value +/-5% of that OD value. For example, and OD6 filter could be OD 5.7-6.3 and would be considered to be within tolerance. We aim for it to be as close to the specified value as possible. Michele Cotrufo
 (posted 2022-01-18 15:34:32.793) Would this filters provide any attenuation at higher wavelengths, in the 6-8 micron range? Naomi Xu
 (posted 2021-08-16 12:16:31.013) 此滤波片是否有进行85℃、85%湿度的存储测试 YLohia
 (posted 2021-12-02 02:41:00.0) Hello, we do not test these parts at high temperature and high humidity. They should be stored below 35 degrees C and below 80% humidity. A desiccant should be used if the possibility of wetting exists. user
 (posted 2021-04-20 05:30:54.743) Hello,
I have a pulsed laser with the following caracteristic (1ns pulse, 500kHz, 3µJ per pulse with a 3.7mm waist in the NIR).
Can I use one of the NENIR filter to decrease the intensity of my beam or am I going do damage the filter ? (I'd like to have a total OD equal to 4). Do I need to use 4 filters with a OD = 1 ? Or can I use only one filter ?
Thanks cdolbashian
 (posted 2021-05-12 05:09:41.0) Thank you for reaching out to us at ThorLabs! We have not tested these filters with higher rep-rate lasers though likely a single OD 4 filter would be fine. If you choose to use multiple filters with the same cumulative OD, you would have a better chance of avoiding damage, as each one would be absorbing less power. Aaron Potter
 (posted 2020-01-27 13:53:36.897) Hello,
Is it possible to get a custom version of this filter coated with a BBAR or AR at 1064nm coating?
Thanks,
Aaron Potter YLohia
 (posted 2020-01-27 02:52:22.0) Hello Aaron, thank you for contacting Thorlabs. Custom optics can be requested by emailing techsupport@thorlabs.com. I will reach out to you directly regarding this. lbooncho
 (posted 2015-10-05 06:52:24.453) Hi,
Is it possible to have 2" round version of the NENIR260B filter?
Also, can it be made thicker such that the OD at 1064 nm is 8 and can it be AR coated at 1064 nm? besembeson
 (posted 2015-10-08 04:09:57.0) Response from Bweh at Thorlabs USA. We can provide such custom filters. I will follow-up with you. aaron.katz
 (posted 2014-12-11 08:00:23.36) Are these suitable for use with a continuous Xe lamp covering most of the filter rather than a pulsed laser with a small spot size. besembeson
 (posted 2014-12-11 04:28:34.0) Response from Bweh at Thorlabs: Provided you keep the linear power density and pulse energy density to the limits we specify, you can use this in either case. You should however bear in mind that when using a larger beam, it is more likely to illuminate a larger number of defects which can lead to greater variances in the LIDT. You want to also keep the beam to at most 90% of the outer diameter or surface area to minimize the increase in defect sites when you go towards the edges. We have a more elaborate discussion on this at the following link under the tab "Damage Thresholds": http://www.thorlabs.hk/newgrouppage9.cfm?objectgroup_id=5559 rwinniewicz
 (posted 2013-10-29 10:27:26.823) I need multiple sets of ND filters verified only at 940nm with a 2.5% tolerance. Please contact me so I can send detailed requirements.
Thanks tcohen
 (posted 2013-10-29 13:13:00.0) Response from Tim at Thorlabs: Thank you for contacting us. An applications engineer will contact you from techsupport@thorlabs.com so we can discuss the requirements further. tcohen
 (posted 2012-09-04 10:22:00.0) Response from Tim at Thorlabs: We should be able to offer this as a custom for you. Some of the pricing comes from tooling costs and therefore price will vary with quantity. I will contact you directly to go over the required specs and quantity so that we can provide you with pricing. diana.tsou
 (posted 2012-08-30 18:00:13.0) Do you have NENIR20B equivalent in square 50x50 mm^2 form? What is the pricing? bdada
 (posted 2011-09-30 13:29:00.0) Response from Buki at Thorlabs:
Thank you for using our Feedback tool. The damage threshold for the NENIR10B is 8J/cm^2 for a spot size of 1.04mm. This was tested with a 1064nm laser, 10ns with a repetition rate of 10Hz. I hope this provides enough of a guideliene for your use of the filter in the 1300nm to 1600nm range. Please contact TechSupport@thorlabs.com if you have further questions about this. jcallahan
 (posted 2011-09-30 09:15:47.0) What is the damage threshold for ND filters NENIR10B and NENIR20B in the 1300nm to 1600nm range? |
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